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首頁 > 產(chǎn)品中心 >原子力顯微鏡 >科研型原子力顯微鏡 >FM-Nanoview R-AFM科研型原子力顯微鏡

科研型原子力顯微鏡

型 號FM-Nanoview R-AFM

更新時間2025-10-30

所屬分類科研型原子力顯微鏡

訪問次數(shù)2832

產(chǎn)品描述:科研型原子力顯微鏡(FM-Nanoview R-AFM),高性能和高性價比的科學研究級AFM。

產(chǎn)品概述

產(chǎn)品特色:


◆  高性能和高性價比的科學研究級AFM

◆  支持多種工作模式和多種功能模塊擴展,滿足絕大多數(shù)的基礎(chǔ)科研應(yīng)用

◆  開放式的結(jié)構(gòu)設(shè)計,支持更多定制化的功能選擇

◆  XYZ三軸獨立閉環(huán)壓電陶瓷掃描器,同時實現(xiàn)高精度的定位和高分辨掃描測量

◆  閉環(huán)壓電陶瓷掃描測量無需非線性校正,納米表征和測量精度優(yōu)于99.5%


技術(shù)參數(shù):

掃描范圍

XY閉環(huán)100*100um,Z閉環(huán)10 um

系統(tǒng)噪音水平

RMS≤30 pm

掃描分辨率

XY閉環(huán)0.2nm, Z閉環(huán)0.04nm

圖像采樣點

最高4096*4096

掃描速度

0.1Hz~100Hz

減震方式

氣浮式減震臺或主動式減震臺

標準成像模式

接觸模式、輕敲模式、相位成像、側(cè)向力模式(LFM

力學測量模式

F-Z力曲線、RMS-Z曲線、高級力譜成像、力學Mapping測量

電學測量模式

靜電力模式(EFM、導(dǎo)電模式(C-AFM)、開爾文探針力模式(KPFM)、壓電力模式(PFM、掃描電阻模式(SSRM)、掃描電容模式(SCM

磁學測量模式

磁力模式(MFM)、可調(diào)制外加磁場

納米刻蝕功能

力學刻蝕、電學刻蝕

環(huán)境控制功能

液體成像模式、密閉氣氛控制模式(特殊氣體)、冷熱一體溫控模式(-20℃~200℃電化學測量模式

光學輔助功能

可適配體視顯微鏡、正置金相顯微鏡倒置生物顯微鏡聯(lián)用


 


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