型 號FM-Nanoview R-AFM
更新時間2025-10-30
所屬分類科研型原子力顯微鏡
訪問次數(shù)2832
產(chǎn)品特色:
◆ 高性能和高性價比的科學研究級AFM
◆ 支持多種工作模式和多種功能模塊擴展,滿足絕大多數(shù)的基礎(chǔ)科研應(yīng)用
◆ 開放式的結(jié)構(gòu)設(shè)計,支持更多定制化的功能選擇
◆ XYZ三軸獨立閉環(huán)壓電陶瓷掃描器,同時實現(xiàn)高精度的定位和高分辨掃描測量
◆ 閉環(huán)壓電陶瓷掃描測量無需非線性校正,納米表征和測量精度優(yōu)于99.5%
技術(shù)參數(shù):
掃描范圍 | XY閉環(huán)100*100um,Z閉環(huán)10 um | 系統(tǒng)噪音水平 | RMS≤30 pm |
掃描分辨率 | XY閉環(huán)0.2nm, Z閉環(huán)0.04nm | 圖像采樣點 | 最高4096*4096 |
掃描速度 | 0.1Hz~100Hz | 減震方式 | 氣浮式減震臺或主動式減震臺 |
標準成像模式 | 接觸模式、輕敲模式、相位成像、側(cè)向力模式(LFM) | ||
力學測量模式 | F-Z力曲線、RMS-Z曲線、高級力譜成像、力學Mapping測量 | ||
電學測量模式 | 靜電力模式(EFM)、導(dǎo)電力模式(C-AFM)、開爾文探針力模式(KPFM)、壓電力模式(PFM)、掃描電阻模式(SSRM)、掃描電容模式(SCM) | ||
磁學測量模式 | 磁力模式(MFM)、可調(diào)制外加磁場 | ||
納米刻蝕功能 | 力學刻蝕、電學刻蝕 | ||
環(huán)境控制功能 | 液體成像模式、密閉氣氛控制模式(特殊氣體)、冷熱一體溫控模式(-20℃~200℃)、電化學測量模式 | ||
光學輔助功能 | 可適配體視顯微鏡、正置金相顯微鏡、倒置生物顯微鏡聯(lián)用 | ||